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中山子浩仪器有限公司

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NDA200射线荧光光谱仪

  • NDA200射线荧光光谱仪
NDA200射线荧光光谱仪
  • 产品介绍

Ø RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析; 
Ø 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素); 
Ø 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析; 
Ø 分析报告的自主定制与输出打印; 
Ø 分析结果的保存、查询及统计; 
Ø ON-Line实时在线技术支持与技术服务功能。
Ø 多层镀层厚度测量功
Ø 美国SDD电致冷半导体探测器(硅漂移型高性能电致冷半导体探测器,是世界上最好的半导体探测器);

Ø 最佳能量分辨率≤130eV(对Mn Kα线);

Ø 探测器Be窗厚度:0.5mil(12.5μm)

Ø 一体化数字式多道脉冲处理(MCA)系统;最大道数8192道;

Ø 系统峰背比(P/B)≥5000/1

Ø 能量响应范围:1KeV~40KeV

Ø 放大器增益自动调整;

Ø 脉冲成形时间自动调整。

Ø 光管类型:钼(Mo)靶侧窗X光管;

Ø 最大功率:50W(50KV、1mA)

Ø 灯丝电压:约为2.5V;

Ø 灯丝电流:约为1.7A

Ø 设计使用寿命:大于25000小时;

Ø 正极性高压电源;

Ø 最大功率:50W

Ø 最大管压:50KV(0~50KV连续可调)

Ø 最大管流:2mA(0~2mA连续可调)

Ø 高压输出稳定度:开机半小时后,每8小时小于0.05%;

Ø 高压输出纹波系数(P-P值):小于最高输出电压的0.1%

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