Ø RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析； 
Ø 各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）； 
Ø 聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析； 
Ø 分析报告的自主定制与输出打印； 
Ø 分析结果的保存、查询及统计； 
Ø ON-Line实时在线技术支持与技术服务功能。
Ø 多层镀层厚度测量功
Ø 美国SDD电致冷半导体探测器（硅漂移型高性能电致冷半导体探测器，是世界上最好的半导体探测器）；

Ø 最佳能量分辨率≤130eV（对Mn Kα线）；

Ø 探测器Be窗厚度:0.5mil(12.5μm)

Ø 一体化数字式多道脉冲处理（MCA）系统；最大道数8192道；

Ø 系统峰背比（P/B）≥5000/1

Ø 能量响应范围：1KeV～40KeV

Ø 放大器增益自动调整；

Ø 脉冲成形时间自动调整。

Ø 光管类型：钼（Mo）靶侧窗X光管；

Ø 最大功率：50W（50KV、1mA）

Ø 灯丝电压：约为2.5V；

Ø 灯丝电流：约为1.7A

Ø 设计使用寿命：大于25000小时；

Ø 正极性高压电源；

Ø 最大功率：50W

Ø 最大管压：50KV（0～50KV连续可调）

Ø 最大管流：2mA（0～2mA连续可调）

Ø 高压输出稳定度：开机半小时后，每8小时小于0.05%；

Ø 高压输出纹波系数（P-P值）：小于最高输出电压的0.1%